顆粒表面特性分析儀MagnoMeter XRS---有效避免測量顆粒表征錯誤

在分析復(fù)雜固-液和液-液配方時，傳統(tǒng)的粒度測量方法是基于2個假設(shè)，第一個假設(shè)是所有顆粒都是球形和光滑的，但球形和光滑的顆粒在大多數(shù)工業(yè)材料中很少出現(xiàn)；第二個假設(shè)是粒子總是均勻一致的，這也并不準(zhǔn)確。由于這些錯誤的假設(shè)，測量粒徑和顆粒表面積可能會產(chǎn)生誤導(dǎo)，從而導(dǎo)致后續(xù)工藝和使用過程中的出現(xiàn)誤差。

德國ORONTEC公司研發(fā)的顆粒表面特性分析儀MagnoMeter XRS使用核磁共振NMR技術(shù)直接測量顆粒大小和形狀，避免高成本的錯誤，具有以下的功能：

●輕松區(qū)分大小相同但表面或形狀不同的產(chǎn)品；

●可以顯示相同材料表面化學(xué)成分的差異

得益于這些功能，MagnoMeter XRS能夠為任何行業(yè)在配方或者制造過程的任何階段提供一流的功能和分析性能。

顆粒表面特性分析儀MagnoMeter XRS操作簡單

?無需樣品制備：所有技術(shù)相關(guān)和行業(yè)相關(guān)的濃度均可直接測量，無需稀釋

?占用空間?。壕哂性S多MagnoPod和控制模塊的配置選項

?測量實時進行：根據(jù)不同的樣品，測量結(jié)果在1s內(nèi)或最遲2min后得出

?顆粒測量新技術(shù)：MagnoMeter XRS 為傳統(tǒng)粒度測量、zeta 電位、BET 氣體吸附和汞孔隙率測定分析提供了一種補充技術(shù)。

顆粒表面特性分析儀MagnoMeter XRS優(yōu)點

?顆粒表面特性分析儀MagnoMeter XRS沒有移動部件，不需要光學(xué)校準(zhǔn)，通過簡單的插件設(shè)置即可開始測量

?溫度控制MagnoPod與控制模塊隔離，消除電子和熱干擾

?一個控制模塊可以操作多個磁控振蕩器，是隔離危險樣品的理想選擇

?允許在空濃度范圍內(nèi)進行直接樣品測量，具有出色的信噪比

?可以用標(biāo)準(zhǔn)核磁共振管操作

顆粒表面特性分析儀MagnoMeter XRS適用領(lǐng)域

顆粒表面特性分析儀MagnoMeter XRS的用途非常廣泛，無論是在研發(fā)、質(zhì)量控制和保證方面，還是在過程控制實驗室測量速度和可靠性方面，顆粒表面特性分析儀MagnoMeter XRS都是一種高效的工具，廣泛運用在以下的領(lǐng)域：

?來料的質(zhì)量控制

?中間制造過程監(jiān)控

?成品質(zhì)量保證

?產(chǎn)品保質(zhì)期確定

客戶舉例

歐洲分散技術(shù)中心The European Center for Dispersion Technologies（EZD）使用顆粒表面特性分析儀MagnoMeter XRS進行顆粒表征分析。

翁開爾是德國ORONTEC中國總代理，歡迎致電【185-6639-8802】咨詢更多關(guān)于顆粒表面特性分析儀MagnoMeter XRS產(chǎn)品信息，技術(shù)應(yīng)用和客戶案例。